XP-703D半导体特气检漏仪(自动吸引式)

时间:2010-11-15 11:30来源:未知 作者:邓凤兰 点击:
XP-703D半导体特气检漏仪(自动吸引式) 特点: 最适合于检测半导体特气的微量泄漏。 采用声光报警。 规格 型 号 XP-703D 检测对象气体 半导体材料气体(胂、膦、乙硼烷、硅烷、氢气等) 检测原理 热线型半导体式 采样方式 自动吸引式 可检测浓度 (单位:ppm) 砷烷

XP-703D半导体特气检漏仪(自动吸引式)

 

 


最适合于检测半导体特气的微量泄漏。
 采用声光报警。

型 号

XP-703D

检测对象气体

半导体材料气体(胂、膦、乙硼烷、硅烷、氢气等)

检测原理

热线型半导体式

采样方式

自动吸引式

可检测浓度
(单位:ppm)

砷烷 磷烷 乙硼烷 硅烷 氢气
AsH3 PH3 B2H6 SiH4 H2
0.2 0.3 0.1 0.5 1.0

检测表示

蜂鸣器断续鸣响及指示灯闪烁

应答速度

10秒以内

XP-703D半导体特气检漏仪(自动吸引式)

规格

 

 

XP-703D半导体特气检漏仪(自动吸引式)

特点:


------分隔线----------------------------
栏目列表
推荐内容