35P露点仪采用VAISALA公司提供的DMT242高分子薄模式探头,主要适用干燥气体微水份检测,探头可防结露及油气污染.自动校准程序确保仪器具有长期稳定性.技术上克服了几乎所有现场测量的不利因素 它从内核到外观都体现了先进科技及超前设计。广泛适用于电力,化工,航空,冶金,医药,食品等行业.
检测快捷: +60 ~ -20℃ ≤0.5 min
-20 ~ -45℃ ≤1.2 min
-45 ~ -80℃ ≤5 min
稳定: 校准功能自动修正微小漂移量,确保优异的重复性和稳定性.
技术参数：
测量范围：-80°C......+20°C -60......+60°C
电 源： 额定24V DC(9-32V DC)
通 信： RS232, DewPro协议
传感元件：平面金/氧化铝电容原理
推荐再校准周期：12-24个月,按应用和所需精度
校准精度：20°C(68°F)环境温度时2°C(3.6°F)露点
可重复性：±1°C(1.8°F)
最大相对湿度： 露点温度＞0°C(32°F)时50%
温度系数： ＜0.2°C/°C(＜0.2°F/°F)
环境和保存温度： -40°C(-40°F)至+50°C(+122°F)
额定操作温度： -20°C(-4°F)至+40°C(+104°F)
氦泄漏率： 10mbarl/s
气体最大速度： 1巴时50m/s 10巴时5m/s
预防尘粒： 带10微米过滤器的保护盖
重 量： 4Kg
|
